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| Marchio: | Crystro |
| Numero di modello: | CR210519-03 |
| MOQ: | 1pc |
| prezzo: | Negoziabile |
| Tempo di consegna: | 2-4 settimane |
| Condizioni di pagamento: | T/T, Western Union, MoneyGram, PayPal |
4mm x 4mm x 50mm LGS Single Crystal con bar di rivestimento Au
cristallo di langasite (La3Ga5SiO14,LGS), appartenente al gruppo spaziale P321, punto gruppo 32,è stato segnalato come un nuovo materiale piezoelettrico promettente per la fabbricazione di dispositivi per onde acustiche di superficie (SAW) e onde acustiche di massa (BAW)I dispositivi realizzati in cristallo di langasite possono essere utilizzati ad alte temperature fino a 900°C a causa della sua elevata stabilità termica.
Il wafer LGS di Crystro è prodotto daCzochralskiMetodo.Diametro massimo raggiunge 60mm.Crytsro può personalizzare le dimensioni e la direzione di taglio in base alle esigenze del cliente.Le nostre dimensioni standard includono la barra di cristallo LGS: 3x3x20mm, 4x4x50mm, 5x5x45mm...Wafer a cristallo LGS: D2inchx0.5mm,D50x0.5mm,40x40x0.5mm...Il cristallo piezoelettrico, tra cui LGS,LN,LT,BBO,DKDP sono i principali prodotti di CRYSTRO.
Proprietà principali:
| Struttura cristallina | sistema rigonale, gruppo 33 a= 8.1783 c = 5.1014 |
| Metodo di crescita | Czochralski |
| Durezza | 6.6 Mohs |
| Densità | 50,754 g/cm3 |
| Punto di fusione | 1470 o C (punto di transizione di fase: N/A) |
| Espansione termica (x10-6/ oC) | A 11: 5.10 A 33: 3.61 |
| Velocità acustica, SAW | 2400 (m/sec) |
| Costante di frequenza, BAW | 1380 (kHz/mm) |
| Accoppiamento piezoelettrico | K2 (%) BAW: 2,21 SAW: 0.3 |
| Inclusioni | N0 |
Caratteristiche:
Limite di danno elevato
Proprietà fisiche e chimiche stabili
Coefficiente di accoppiamento elettromeccanico elevato (3 volte quello del quarzo)
Basse resistenze equivalenti in serie
Applicazioni:
di una lunghezza di 20 mm o più ma non superiore a 50 mm
Dispositivo SAW
Dispositivo BAW
Sensore
Laser ad alta potenza ad alta frequenza di ripetizione
Laser ad alta e bassa variazione di temperatura
Documento:
LGS Cryatal.pdf
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| Marchio: | Crystro |
| Numero di modello: | CR210519-03 |
| MOQ: | 1pc |
| prezzo: | Negoziabile |
| Dettagli dell' imballaggio: | Scatola pulita trasparente |
| Condizioni di pagamento: | T/T, Western Union, MoneyGram, PayPal |
4mm x 4mm x 50mm LGS Single Crystal con bar di rivestimento Au
cristallo di langasite (La3Ga5SiO14,LGS), appartenente al gruppo spaziale P321, punto gruppo 32,è stato segnalato come un nuovo materiale piezoelettrico promettente per la fabbricazione di dispositivi per onde acustiche di superficie (SAW) e onde acustiche di massa (BAW)I dispositivi realizzati in cristallo di langasite possono essere utilizzati ad alte temperature fino a 900°C a causa della sua elevata stabilità termica.
Il wafer LGS di Crystro è prodotto daCzochralskiMetodo.Diametro massimo raggiunge 60mm.Crytsro può personalizzare le dimensioni e la direzione di taglio in base alle esigenze del cliente.Le nostre dimensioni standard includono la barra di cristallo LGS: 3x3x20mm, 4x4x50mm, 5x5x45mm...Wafer a cristallo LGS: D2inchx0.5mm,D50x0.5mm,40x40x0.5mm...Il cristallo piezoelettrico, tra cui LGS,LN,LT,BBO,DKDP sono i principali prodotti di CRYSTRO.
Proprietà principali:
| Struttura cristallina | sistema rigonale, gruppo 33 a= 8.1783 c = 5.1014 |
| Metodo di crescita | Czochralski |
| Durezza | 6.6 Mohs |
| Densità | 50,754 g/cm3 |
| Punto di fusione | 1470 o C (punto di transizione di fase: N/A) |
| Espansione termica (x10-6/ oC) | A 11: 5.10 A 33: 3.61 |
| Velocità acustica, SAW | 2400 (m/sec) |
| Costante di frequenza, BAW | 1380 (kHz/mm) |
| Accoppiamento piezoelettrico | K2 (%) BAW: 2,21 SAW: 0.3 |
| Inclusioni | N0 |
Caratteristiche:
Limite di danno elevato
Proprietà fisiche e chimiche stabili
Coefficiente di accoppiamento elettromeccanico elevato (3 volte quello del quarzo)
Basse resistenze equivalenti in serie
Applicazioni:
di una lunghezza di 20 mm o più ma non superiore a 50 mm
Dispositivo SAW
Dispositivo BAW
Sensore
Laser ad alta potenza ad alta frequenza di ripetizione
Laser ad alta e bassa variazione di temperatura
Documento:
LGS Cryatal.pdf
